II Le microscope à force atomique

  Alors que le microscope à effet tunnel permet d'observer la surface des matériaux conducteurs, le microscope à force atomique permet d'observer la surface des matériaux isolants tels que les polymères, les céramiques et les matériaux biologiques.
Sa pointe,fixée sur un bras de levier flexible, balaye et frotte la surface du matériau à observer en suivant le relief.
La déformation du levier, qui est éclairé avec un laser, est mesurée par un photodétecteur et enregistrée à l'ordinateur.
Cet instrument est très utilisé dans les industries où le contrôle fin de l’état de surface est primordial, comme par exemple celles de la micro-électronique.

    Image d'ADN obtenue au microscope à force atomique.

    Pour déterminer la structure et les propriétés des objets nanométriques,on utilise de plus en plus la simulation numérique.
En raison de la complexité des calculs et pour être plus fiable et plus précis, la simulation numérique nécessite des ordinateurs de plus en plus puissants.

En haut,
image d'un film d'or obtenue
au microscope électronique ;

En bas,
simulation numérique
de la structure atomique
d'un film d'or.
  Ain